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顯微粒度檢測系統(tǒng) DLM-300C(全自動顯微粒度分析儀) 一、應(yīng)用范圍:
蔡康顯微粒度檢測系統(tǒng)DLM-300C適用于金剛石、碳化硅、藥粉、石墨、磨料、陶瓷、硅灰石、金屬粉、碳粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等需要進(jìn)行粒度分析和質(zhì)量控制的各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析,一般可把微小顆粒放大到幾千倍進(jìn)行顯微觀察和粒度分析。 1. DLM-300C顆粒圖像分析儀利用工業(yè)級彩色高速攝象器進(jìn)行圖像或者視頻采集,高倍蔡康光學(xué)顯微鏡放大成像,圖像快速顯示于計(jì)算機(jī),直接實(shí)時觀察顆粒形貌,利用專用軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理,形態(tài)統(tǒng)計(jì)分析。 2. 粒度測量范圍:0.5μm~5000μm 3. 接口方式:USB連接。 4. 平場消色差物鏡,最大分辨率0.07微米,最大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。 5. 供等面積和等周長兩種基準(zhǔn)下的個數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù),配有(30)多種圖像分析和處理功能,可以滿足各種圖像處理需要。 6. 對采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等,提高分析分辨率,網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能,使測試結(jié)果更真實(shí)可靠。 7. 儀器分二種型號,技術(shù)原理、參數(shù)都相同,DLM-200C型顆粒圖像分析儀配置高檔透射生物顯微鏡,DLM-300C型顆粒圖像分析儀配置高檔透反射金相顯微鏡,DLM-300C還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析或者金相平均晶粒度分析,也可以用于汽車表面鍍層顆粒均勻度分析。
8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印,還可輸出多種格式的測試報告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求,設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等專用軟件。 1. 色調(diào)處理:負(fù)像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對比度調(diào)整; 2. 圖像矯正:水平鏡像、垂直鏡像、90度(逆時針)、90度(順時針) 、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小任意比例縮放等; 3. 測量單位:微米、毫米、厘米、英吋任選; 4. 圖像增強(qiáng):對比度均衡、膨脹、腐蝕等; 5. 圖像處理:圖像銳化,邊緣平滑,二值化,邊界濾波,分析目標(biāo)擦除、孔洞填充,手工擦除,手工連接,粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能;
6. 分析參數(shù): (1)幾何參數(shù):每個顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置,像素; |
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三、蔡康粒度檢測儀特點(diǎn)和參數(shù)指標(biāo) |
1)蔡康顯微粒度檢測儀特點(diǎn): ●通過數(shù)字?jǐn)z像機(jī)可以在計(jì)算機(jī)顯示器上直接觀察、測量顆粒,準(zhǔn)確測定非金屬、金屬顆粒的大小 ●能同時將金屬顆粒的反光區(qū)和陰影區(qū)合并測量 ●鼠標(biāo)引導(dǎo)測量(鼠標(biāo)移動相應(yīng)顆粒),自動給出測量數(shù)據(jù) ●對于測試顆粒分類匯總 ●任意排版的圖文混編的報告輸出 ●顆粒范圍:0.5μm~5000μm 2)整體性能指標(biāo): 放大倍率:50X—3000X 顆粒范圍:0.5微米—5000微米 光源:上下鹵素光源 標(biāo)準(zhǔn)配置 ○ 粒度測量顯微鏡 ○ 電動控制平臺(選購) ○ 高清像素高速工業(yè)數(shù)字?jǐn)z像機(jī) ○ 0.01mm 物鏡測微尺 ○ 0.1mm 目鏡測微尺(如果帶目視則選購) ○ 蔡康DL-3000粒度測試分析軟件 ○ 計(jì)算機(jī)(選購) ○ 打印機(jī)(選購) |
四:蔡康DL-3000粒度分析系統(tǒng)軟件功能介紹 |
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蔡康粒度分析軟件DL-3000圖像分析系統(tǒng)主界面
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1)選擇相應(yīng)的粒度分析標(biāo)準(zhǔn) |
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