XPR-500型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化 學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化
二、儀器的主要技術指標：
1.顯微鏡技術參數:
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名 稱 |
規 格 |
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總放大倍數： |
40X---630X |
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無應力消色差物鏡 |
4X/0.1 |
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10X/0.25 |
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25X/0.40 |
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40X/0.65 |
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63X/0.85 |
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目鏡
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WF10X/18mm |
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10X網格目鏡 10X分劃目鏡 10X刻度目鏡 |
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試片 |
石膏1λ試片 云母1/4λ試片 石英楔子試片 |
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測微尺 |
0.01mm |
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濾色片 |
藍色 |
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聚光鏡 |
N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡 |
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集光鏡 |
高亮度固定式照明 |
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載物臺 |
直徑160mm，360°高精度等分刻度圓型旋轉載物臺，游標格值6’，中心可調，帶鎖緊裝置 移動尺:移動范圍30mm×40mm |
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鏡筒 |
45度平拉式三目觀察（52mm-75mm) |
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光源 |
鹵素燈（6V/20W.AC 85V-230V）亮度可調 |
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電腦攝像系統 |
1X攝影接口，標準C接口 CK-300數字攝像系統，分辨率：2048X1536， 芯片尺寸：1/2"， USB2.0連接, 圖像質量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩定，有多種圖像處理方式（詳細參數見CK-300攝像機介紹） |
CK-400型偏光熱臺是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。
加熱臺由精密溫度控制儀和載物恒溫工作臺二部分組成，二者由一5芯線纜插口連接，載物恒溫工作臺置于光學或電子顯微鏡載物臺上。特別適用配合偏光顯微鏡構成偏光熔點測量系統。
三、熔點儀技術參數:
1)輸入電源： 交流170~264V 50/60HZ 2)熱臺加熱工作電源：直流 24V 5A
3)功耗：260W 4)溫度范圍：室溫——420℃
5)熱臺外體最高溫度：熱體400℃;室溫25℃時≤70℃ 6)工作方式：連續
7)熱體最大載物重量：200克 8)精度：測量精度：全范圍≤±0.5%
9)升溫速度：室溫——100℃ ≤80秒 室溫——200℃ ≤300秒
10)系統波動度：±1℃
11)升溫速度達400℃時間: 10min
12)可設置升溫速度范圍：0.1——0.5秒/℃
13)即刻恒溫響應時間： ≤0.01秒
14)加熱板圓盤直徑99mm；厚度12mm 15)有效加熱范圍41mm；通光孔直徑3.8mm
四、系統組成:
1、偏光顯微鏡XPR-500 2、攝像機接口
3、彩色數字攝像機CK-300 4、偏光熱臺CK-400
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