金相試樣由于使用專用研磨機(jī)，在降冪顆粒度的工序中，完全可以不用影響平整度不耐磨的高消耗材料的砂紙，而是分別采用不同顆粒度的研磨料，用攪拌循環(huán)泵輸送到磨盤上，進(jìn)行粗磨、精磨工序。為拋光工序打下了良好的基礎(chǔ)。上海蔡康光學(xué)儀器有限公司，專門生產(chǎn)各種金相顯微鏡和金相切割機(jī)、金相拋光機(jī)、金相鑲嵌機(jī)。金相預(yù)磨機(jī)等設(shè)備、網(wǎng)址“www.caikon.com”
查看詳情>>采用專用研磨拋光設(shè)備，去掉手工操作，多快好省地加工出合格的金屬試樣，是科技時(shí)代的要求，更是今天加工金屬試樣技術(shù)要求的需要。上海蔡康光學(xué)儀器有限公司，專業(yè)生產(chǎn)金相顯微鏡，金相鑲嵌機(jī)，金相拋光機(jī)，金相預(yù)磨機(jī)，金相切割機(jī)等設(shè)備。網(wǎng)址www.caikon.com
相襯顯微鏡是一種特殊的顯微鏡，特別適用于觀察具有很高透明度的對(duì)象，例如生物切片、油膜和位相光柵等等。光波通過這些物體，往往只改變?nèi)肷涔獠ǖ奈幌喽桓淖內(nèi)肷涔獠ǖ脑龇捎谌搜奂八心芰繖z測(cè)器只能辨別光波強(qiáng)度上的差別，也即振幅上的差別，而不能辨別位相的變化，因此用普通顯微鏡是難以觀察到這些物體的。
掃描隧道顯微鏡（STM）的基本原理是利用量子理論中的隧道效應(yīng)。
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig與史丹佛大學(xué)的Quate 于一九八五年所發(fā)明的，其目的是為了使非導(dǎo)體也可以采用掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行觀測(cè)。
Copyright(c)2016-2024 上海蔡康光學(xué)儀器有限公司 
專業(yè)產(chǎn)品
